广州比较PCB系列钻咀钻嘴

套环材质采用进口比较PCB系列钻咀聚甲醛（POM）材料，收缩性好，成品不易开裂。但为了保证客户端使用无异常，零投诉，更好的控制套环品质，需在其加工过程中进行套环强度破裂测试。现有的套环强度破裂测试装置属于半自动化装置，PCB系列钻咀钻嘴即有人为将套环单个放入套环定位治具中，再按下控制开关，由气缸推动破裂杆穿过套环，然后气缸收回，最终仍由人为将套环取下，十分耗时耗力，导致人工成本的增加。

基本上设置测试点广州PCB系列钻咀的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性，比如说想检查一颗电路板上的电阻有没有问题，最简单的方法就是拿万用电表量测其两头就可以知道了。可是在大量生产的工厂里没有办法让你用电表慢慢去量测每一片板子上的每一颗电阻、电容、电感、甚至是IC的电路是否正确，所以PCB系列钻咀钻嘴就有了所谓的ICT(In-Circuit-Test)自动化测试机台的出现，它使用多根探针(一般称之为「针床(Bed-Of-Nails)」治具)同时接触板子上所有需要被量测的零件线路，然后经由程式控制以序列为主，并列为辅的方式循序量测这些电子零件的特性，通常这样测试一般板子的所有零件只需要1-2分钟左右的时间可以完成，视电路板上的零件多寡而定，零件越多时间越长。

在PCB焊接过程比较PCB系列钻咀中没有保证足够的温度或时间，或者是没有正确的使用助焊剂，也同样会导致PCB吃锡不良。一般焊锡的操作温度较其溶点温度高55～80℃，预热时间不够很容易导致吃锡不良情况的出现。而线路表面助焊剂分布数量的多寡受比重所影响。检查比重亦可排除因卷标贴错、贮存条件不良等原因而致误用不当助焊剂的可能性。PCB在PCB系列钻咀钻嘴进行焊接的过程中，焊锡的材质优劣和端子的清洁与否也是直接关系到最后结果的。如果焊锡中杂质成份太多或端子有污损，也会造成PCB吃锡不良。在进行焊接时可按时测量焊锡中之杂质并保证每一个端子的清洁，若焊锡质量不合规定则需要更换标准焊锡。

由于侧蚀的影响，生产加工比较PCB系列钻咀时考虑铜厚及不同加工工艺，需要对线路进行一定预粗，喷锡和沉金板HOZ铜常规补偿0.025mm，1OZ铜厚常规补偿0.05-0.075mm,线宽/线距生产加工能力常规0.075/0.075mm。因此在设计时在考虑最线宽/线距布线时需要考虑生产时的补偿问题。镀金板PCB系列钻咀钻嘴由于蚀刻后不需要退除线路上面的镀金层，线条宽度没有减小，因此不需要补偿。但需注意由于侧蚀仍然存在，因此金层下面铜皮线宽会小于金层线宽，如果铜厚过厚或蚀刻过量极易造成金面塌陷，从而导致焊接不良的现象发生。对于有特性阻抗要求的线路，其线宽/线距要求会更加严格。